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AMETEK一致性測試系統(tǒng)CTS 3.2系列概述
California Instruments 符合性測試系統(tǒng)
CTS 系列是一套符合 EN IEC 1000-3-2(諧波)的完整交鑰匙式一致性測試系統(tǒng)。其測試項(xiàng)目包括 A14、EN IEC 1000-3-3(閃變)和各種 EN IEC 1000-4 交流抗擾度測試。CTS 由交流電源、功率分析調(diào)節(jié)系統(tǒng)(PACS)和基于個(gè)人計(jì)算器的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)所組成，并能為 IEC 測試提供完整的交鑰匙式解決方案基于 Windows™ 的 CTS 軟件執(zhí)行 IEC 測試并生成詳細(xì)的測試報(bào)告。系統(tǒng)將完整的數(shù)據(jù)文件存儲(chǔ)在磁盤上，以便進(jìn)行后期測試分析。
CTS 系統(tǒng)實(shí)施各種 IEC 標(biāo)準(zhǔn)，包括新修訂 14 (Amendment 14)，并為未來可能的標(biāo)準(zhǔn)變更提供軟件升級路徑。
前面板或后面板上配有歐式交流插座，可輕松連接單相負(fù)載。該系統(tǒng)也能通過后端子塊連接三相負(fù)載。
所涵蓋的 EN IEC 標(biāo)準(zhǔn) 用具可以使用基于 iX 系列的 CTS 系統(tǒng)執(zhí)行以下測試：
EN 61000-3-2 諧波(A14)
EN 61000-3-3 閃爍
EN 61000-4-11 電壓驟降和中斷(EOS 選件 – ED2.0)
EN 61000-4-13 諧波和間諧波(需要選件 – 413)
EN 6100-4-17 DC 紋波
EN 61000-4-14 電壓波動(dòng)
EN 61000-4-28 頻率變化
EN 61000-4-29 直流驟降和中斷(預(yù)兼容)
EN 61000-3-2 諧波
該產(chǎn)品支持 A、B、C 和 D 類產(chǎn)品的電流諧波輻射的*符合性測試。該產(chǎn)品的內(nèi)置功能支持 1998 年和 2001 年的諧波標(biāo)準(zhǔn)版本(修訂14)，有助確保被測設(shè)備*符合兩種諧波標(biāo)準(zhǔn)。
EN 61000-3-3 閃爍
在整個(gè)測試期間實(shí)時(shí)顯示 PST 和 PLT 閃爍測試結(jié)果。用戶無需等到整個(gè)測試完成后才能知道 EUT 是否通過。閃爍測試可以選用可編程或集總參考阻抗方法。
EN 61000-4-11 電壓驟降 – ED2.0
大多數(shù) CTS 系統(tǒng)都提供電壓驟降和中斷的預(yù)先符合測試。用戶也可以將電子輸出開關(guān)(選件-EOS1或-EOS3)添加到任何基于 iX 的 CTS 系統(tǒng)上，實(shí)現(xiàn)完整的符合性解決方案。
EN 61000-4-13 間諧波
只需在基于 iX 系列的 CTS 系統(tǒng)添加 -413 選件，就能實(shí)現(xiàn) EN 61000-4-13 間諧波標(biāo)準(zhǔn)測試。
其他 EN 61000-4 抗擾度測試
所有基于 iX 的 CTS 系統(tǒng)都支持附加的抗擾度測試標(biāo)準(zhǔn)。
配置 CTS 系統(tǒng)提供單相和三相配置。單相配置的功率范圍為 1250 VA 至 5000 VA。
在 230 V 條件，三相配置的每相能提供 15 k VA 或 18.5 A 的電力.單相 5001iX-CTS 系統(tǒng)可根據(jù)需要升級為三相系統(tǒng)。
用戶也可以將僅具備測量功能的 CTS 系統(tǒng)(100-CTS 和 300-CTS)添加到現(xiàn)有的 California Instruments 電源中。
交流電源
CTS 系統(tǒng)能提供 1250 VA 至 >45,000 VA 的功率，適用于針對現(xiàn)有和未決 IEC 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試的全系列單相和三相產(chǎn)品。所有 iX 系列交流電源均符合 IEC 對低電壓失真的要求，并提供任意波形生成、精確測量和波形分析等功能。在諧波測試期間實(shí)時(shí)測量實(shí)際交流電源的電壓失真，并識(shí)別可能影響測試結(jié)果的任何失真現(xiàn)象。
所有基于 iX 系列的 CTS 系統(tǒng)也支持多種 IEC 61000-4 交流抗擾度標(biāo)準(zhǔn)的完整一致性測試(可能需要某些選件，詳情請參閱訂購信息)。
通過計(jì)算機(jī)直接采集數(shù)據(jù)
基于高速數(shù)字信號(hào)處理器的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，可用于實(shí)現(xiàn)所需的 IEC 一致性測量系統(tǒng)。相比于使用 IEEE-488 儀器、USB、LXI 或 RS-232 總線的實(shí)現(xiàn)分析儀器和計(jì)算機(jī)之間的通信的盒 IEC 測試系統(tǒng)，直接訪問計(jì)算機(jī)總線可以實(shí)現(xiàn)跟高的數(shù)據(jù)吞吐量。
這種高速采集系統(tǒng)架構(gòu)將原始數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到硬盤驅(qū)動(dòng)器，并提供多項(xiàng)功能。它不僅能夠通過安裝新的計(jì)算機(jī)軟件來支持未來版本的測試標(biāo)準(zhǔn)，而且還可以避免產(chǎn)品隨著測試標(biāo)準(zhǔn)的演進(jìn)而過時(shí)。此外，由于數(shù)據(jù)以實(shí)時(shí)流式傳輸?shù)接脖P，因此每次都會(huì)創(chuàng)建一個(gè)完整的數(shù)據(jù)記錄。該記錄可用于審計(jì)目的、數(shù)據(jù)重放和進(jìn)一步分析，或證明符合測試標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的所有測量要求。
系統(tǒng)中還有一個(gè)特殊的信號(hào)調(diào)理和隔離單元，用于在交流電源和被測設(shè)備之間提供快速、簡便的連接。該單元為測量系統(tǒng)提供所需的隔離，以及信號(hào)調(diào)理和抗混疊濾波功能。被測設(shè)備可以插入前面板的歐式插座(僅限單相系統(tǒng))，或連接到后面板的接線端子。
諧波分析儀
CTS 系統(tǒng)的關(guān)鍵組件是一個(gè)符合 IEC 標(biāo)準(zhǔn)的功率分析儀。該分析儀提供有關(guān)電壓和電流的詳細(xì)信息。諧波和間諧波的測量以實(shí)時(shí)、毫無測量間隙的方式進(jìn)行，*符合樶新版本的 IEC 61000-4-7 測試標(biāo)準(zhǔn)。系統(tǒng)在整個(gè)測試過程中持續(xù)監(jiān)測交流電源的電壓和 EUT 功率。根據(jù) IEC 類別限制檢查電壓失真和電流諧波數(shù)據(jù)，從而進(jìn)行通過或失敗檢測。可以輕松生成全面的測試報(bào)告。
測試限制儲(chǔ)存在受密碼保護(hù)的數(shù)據(jù)庫中，并可以在日后根據(jù)需要進(jìn)行更新，而無需更改軟件。只需安裝新的計(jì)算機(jī)軟件，就可以根據(jù) IEC 諧波標(biāo)準(zhǔn)上的變更在軟件上進(jìn)行相應(yīng)的改變。系統(tǒng)固件中不會(huì)有諧波測試軟件駐留，因此可免去昂貴的現(xiàn)場升級。
閃變參考阻抗
符合 IEC61000-4-15 標(biāo)準(zhǔn)的閃爍儀表是 CTS 軟件*的一部分。用戶可以在 iX 系列交流電源中設(shè)置輸出阻抗以實(shí)現(xiàn) 所需的參考阻抗(符合IEC 60725)。與集總參考阻抗相比，可編程阻抗能提供更高的精度，并且無需切換集總參考阻抗硬件即可支持不同的國家標(biāo)準(zhǔn)。比如針對日本諧波和閃爍標(biāo)準(zhǔn)的測試，其所需的阻抗值就與歐洲測試標(biāo)準(zhǔn)不同。
用戶也可以為基于單相或三相 iX 系列 的 CTS 系統(tǒng)訂購符合 IEC 60725 或 IEC61000-3-3 的 Z-測試規(guī)范的集總阻抗。針對三相 CTS 系統(tǒng)，建議使用集總阻抗選項(xiàng)。該軟件可配置為在閃爍測試期間使用任一阻抗類型。
AMETEK一致性測試系統(tǒng)CTS 3.2系列特點(diǎn)
★ 完整的測試解決方
針對交流和直流供電產(chǎn)品的完整的輻射和抗擾度一致性測試方案
★ 單相和三相操作
提供應(yīng)用靈活性
★ 直接計(jì)算機(jī)總線訪問
提供高采樣率和分辨率，實(shí)現(xiàn)精確測量和高速數(shù)據(jù)傳輸
★ 基于計(jì)算機(jī)的諧波和閃爍測試
具備實(shí)時(shí)的全彩色數(shù)據(jù)顯示更新功能，并有助進(jìn)行連續(xù)的通過/失敗監(jiān)控。
★ 支持標(biāo)準(zhǔn)
支持歐洲和日本標(biāo)準(zhǔn)
★ 易于操作的接口
提供 IEC 測試設(shè)置、數(shù)據(jù)分析、顯示，以及MS Word 測試報(bào)告，并以 MS Excel 格式生成數(shù)據(jù)文件
★ 高分辨率
用戶可將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到磁盤，以在采集后進(jìn)行分析和報(bào)告
★ 單步
200 毫秒的單步和快進(jìn)測試數(shù)據(jù)重放
